Options
Mesure par faisceau ionique de la diffusion dans des couches minces: B dans Si épitaxial et W dans TiC/WC
Auteur(s)
Rudolf, Felix
Maison d'édition
Neuchâtel
Date de parution
1979
Nombre de page
108 p.
Notes
Thèse de doctorat, Sciences, Physique
Identifiants
Type de publication
doctoral thesis
Dossier(s) à télécharger
